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产品型号：K100
更新时间：2025-04-23简要描述：日本KITA半导体PCB 检查的弹簧探针高负荷型 K100 系列具有更长的行程和更高的负载，使其*适合于安装板检查。间距从 1mm 到 2.54mm 不等，对于每个间距，您不仅可以选择柱塞*端形状，还可以选择负载。您可以选择*适合您需求的型号。 专为半导体测试中大电流、高机械应力场景优化，适用于严苛环境下的PCB功能测试、功率模块验证及老化测试。
深圳纳加霍里科技专业代理销售日本KITA半导体PCB 检查的弹簧探针高负荷型 K100 产品特点如下：
日本KITA半导体PCB 检查的弹簧探针高负荷型 K100 该系列以高耐久性、稳定接触电阻和抗机械疲劳著称，广泛应用于晶圆测试、封装测试、PCB功能验证等领域。
负载设计：专为半导体测试中大电流、高机械应力场景优化，适用于严苛环境下的PCB功能测试、功率模块验证及老化测试。
工业级耐久性：在1500gf高接触压力下仍保持稳定性能，典型寿命达50万次以上（标准测试条件）。
1. 突出特点
① 高可靠性结构
强化弹簧机构：采用特殊合金弹簧材料，抗疲劳性提升30%（对比同级产品）。
防卡死设计：导向槽+自清洁针头，减少碎屑堆积导致的卡针问题。
② 电气性能优化
低阻抗通路：镀厚金（可选铑合金）触点，降低接触电阻波动。
大电流散热：针体内部铜芯增强散热，持续10A测试温升＜15°C。
③ 恶劣环境适配
防腐蚀镀层：通过48小时盐雾测试（ASTM B117标准）。
防溅射设计：可选密封套件，用于油污/粉尘环境（如汽车电子测试）。
2. 典型应用场景
功率电子测试：
IGBT/SiC模块的导通测试（需穿透氧化层）
车载ECU板的大电流负载验证
老化测试（Burn-in）：
服务器PCB的长时间高负荷循环测试
光伏逆变器模块的寿命评估
高阻抗需求测试：
低电压大电流场景（如电源管理IC测试）
3. 定制选项
针头形状：平头（默认）、尖头（破氧化层）、冠状头（多触点）。
弹簧压力：可调整至2000gf（需配合专用夹具）。
线缆集成：支持直接焊接同轴电缆（阻抗匹配至50Ω）。
4. 关键参数规格
| 特性 | 参数值/描述 |
|---|---|
| 额定电流 | 10A（瞬时峰值可达15A） |
| 最大负载 | 1200-1500gf（可定制更高压力） |
| 行程范围 | 3.0-4.0mm（长行程适应不平整表面） |
| 针径 | 1.00mm（粗针径增强结构强度） |
| 接触电阻 | ≤20mΩ（初始值，镀金触点） |
| 工作温度 | -40°C ~ +150°C（高温适配性强） |
| 推荐测试频率 | 适用于DC及低频大电流测试 |
5. 核心型号参数对比
| 型号 | 额定电流 | 最大负载 (gf) | 行程 (mm) | 针径 (mm) | 特点 |
|---|---|---|---|---|---|
| K039 | 3A | 300-500 | 1.5-2.0 | 0.39 | 微型化设计，高密度测试 |
| K050 | 5A | 500-800 | 2.0-2.5 | 0.50 | 平衡负载与寿命 |
| K075 | 7A | 800-1200 | 2.5-3.0 | 0.75 | 高电流/高耐久性 |
| K100 | 10A | 1200-1500 | 3.0-4.0 | 1.00 | *强负载，工业级应用 |
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