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  • KPS040-004CA日本KITA半导体器件弹簧探针高频
    KPS040-004CA日本KITA半导体器件弹簧探针高频

    日本KITA半导体器件弹簧探针高频KPS040-004CA适用于0.5mm和0.8mm间距的高频产品。 1.5 毫米(使用时为 1.1 毫米)的短长度可通过短路径长度实现低损耗。 采用高导电材料(如镀金铜合金)减少信号传输损耗,确保高频信号的完整性。

    更新时间:2025-04-22
  • KMW040-001RG日本KITA半导体器件弹簧探针大电流、高温
    KMW040-001RG日本KITA半导体器件弹簧探针大电流、高温

    日本KITA半导体器件弹簧探针大电流、高温是弹簧探头耐高温200°C,在高温、大电流测试环境中表现出色。 其产品尤其擅长应对大电流和高温环境,适用于半导体器件测试、晶圆测试、封装测试等严苛场景。

    更新时间:2025-04-22
  • KJW050-003CG日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性
    KJW050-003CG日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性

    日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性是该弹簧探头由非磁性材料制成,可用于必须消除磁性影响的测试环境。 适用于磁敏感环境(如MRI设备、高精度传感器测试)或避免磁化污染的半导体测试。

    更新时间:2025-04-22
  • KNS025-001WP日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触
    KNS025-001WP日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触

    日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触(4 端子连接)适用于高精度测试中使用的 4 端测量的弹簧探头。 使两个探针与半导体器件的一个端子接触。探头间距有 0.3、0.4、0.5mm 三种可选。

    更新时间:2025-04-22
  • KHS017-001CP日本KITA半导体器件弹簧探针细间距
    KHS017-001CP日本KITA半导体器件弹簧探针细间距

    日本KITA半导体器件弹簧探针细间距(0.15~0.25mm间距)应用中扮演着关键角色. 主要用于高密度互连测试(如晶圆测试、芯片测试、PCB测试等) 弹簧探针内置于 IC 插座中,作为将被测设备垂直连接到电路板的电路。实现了低阻力、高耐久性。

    更新时间:2025-04-22
  • KHW030-001C2日本KITA半导体器件弹簧探针标准间距
    KHW030-001C2日本KITA半导体器件弹簧探针标准间距

    日本KITA半导体器件弹簧探针标准间距0.3 mm至 1.0mm除了常规的镀金柱塞外,我们还针对每种主要长度提供各种高度通用。 以“MARATHON”系列为中心,这是一款标准化产品,采用北制作所开发的电镀和涂层来防止焊料转移,以及达到相同效果的贵金属。

    更新时间:2025-04-22
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