日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触

深圳纳加霍里科技专业代理销售 日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触（4 端子连接）产品特点如下：

日本KITA半导体器件弹簧探针开尔文接触（4 端子连接）开尔文接触（4端子连接）是一种高精度测试技术，主要用于半导体芯片、晶圆、封装测试等领域的电气性能测量。

1. 开尔文接触（4端子连接）原理

开尔文连接（Kelvin Connection）通过分离电流施加和电压测量的路径，消除导线和接触电阻的影响，显著提升小电阻或低电压信号的测量精度：

电流路径（Force线）：提供测试电流。

电压路径（Sense线）：独立测量被测器件两端的电压，避免电流路径的压降干扰。

2. KITA弹簧探针的关键设计

KITA的弹簧探针针对开尔文测试优化，具有以下特性：

独立隔离的4端子：每个探针包含两个弹簧触点（Force/Sense），物理隔离以减少串扰。

高精度材料：使用铍铜、钯合金等低电阻且耐磨损材料，确保长期稳定性。

微细间距适配：支持高密度布局，适用于微小焊盘或凸块（如BGA、CSP封装）。

弹性行程控制：弹簧结构提供稳定的接触压力，避免损伤被测表面。

3. 典型应用场景

晶圆测试（Wafer Probing）：测量晶体管、二极管、电阻的IV特性。

封装测试（Package Test）：验证封装后器件的导通性和阻抗。

高精度参数分析：如接触电阻（几毫欧级）、导通电阻（RDS(on)）等。

4. 优势

降低接触误差：消除探针与焊盘之间的接触电阻影响。

高重复性：弹簧结构保证多次测试的接触一致性。

兼容自动化：适配探针卡（Probe Card）或测试插座（Test Socket）。

5. 与其他技术的对比

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