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日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性

  • 产品型号:KJW050-003CG
  • 更新时间:2025-04-22

简要描述:日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性是该弹簧探头由非磁性材料制成,可用于必须消除磁性影响的测试环境。
适用于磁敏感环境(如MRI设备、高精度传感器测试)或避免磁化污染的半导体测试。

产品详情

深圳纳加霍里科技专业代理销售日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性 KJW050-003CG 产品特点如下:

日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性 KJW050-003CG 适用于磁敏感环境(如MRI设备、高精度传感器测试)或避免磁化污染的半导体测试。

采用不锈钢(SUS303/SUS304)或其他非磁性合金,避免磁场干扰。

1. 非磁性弹簧探针的核心特点

材料:

弹簧:特殊合金(如高弹力镍合金),确保无磁且耐疲劳。

关键优势:

零磁干扰:适用于MRI设备、量子计算、高精度传感器等对磁场敏感的场景。

高稳定性:低接触电阻(<50mΩ),信号传输损耗极小。

耐腐蚀:镀金层(通常≥0.5μm)抗氧化,延长使用寿命。

2. 机械结构

行程:0.3mm(具体以规格书为准,短行程设计提高测试精度)。

弹簧力:轻压力(如10-50gf),保护脆性器件(如晶圆、芯片)。

针头形状:可能为尖头或平头设计,适应不同接触面(需确认型号细节)。

3. 主要应用领域

半导体测试:

晶圆探针卡、芯片测试夹具(如Memory、Logic IC)。

射频(RF)器件测试(需低阻抗探针)。

精密电子:

微型连接器(如FPC/FFC接口测试)。

医疗设备(如内窥镜模块、植入式器件测试)。

特殊环境:

强磁场环境(实验室、粒子加速器配套设备)。

半导体测试:用于晶圆探针台、芯片测试夹具。

PCB测试:高密度电路板的在线测试(ICT/FCT)。

精密电子:微型连接器、射频模块测试。

4. 优势

高精度:重复定位精度高(±μm级),适合高频信号测试。

耐腐蚀:表面镀金处理,抗氧化且延长寿命。

兼容性:符合JIS或IPC标准,可与主流测试设备匹配。

日本KITA半导体器件弹簧探针非磁性

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