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简要描述:日本KITA半导体器件弹簧探针高频KPS040-004CA适用于0.5mm和0.8mm间距的高频产品。 1.5 毫米(使用时为 1.1 毫米)的短长度可通过短路径长度实现低损耗。采用高导电材料(如镀金铜合金)减少信号传输损耗,确保高频信号的完整性。
深圳纳加霍里科技专业代理日本KITA半导体器件弹簧探针高频KPS040-004CA 产品特点如下:
日本KITA半导体器件弹簧探针高频KPS040-004CA 0.5mm和0.8mm间距的高频产品。 1.5 毫米(使用时为 1.1 毫米)的短长度可通过短路径长度实现低损耗。
1. 高频弹簧探针的核心设计
低阻抗结构:采用高导电材料(如镀金铜合金)减少信号传输损耗,确保高频信号的完整性。
短路径设计:优化探针长度和接触点间距,降低寄生电感和电容,适用于GHz级高频测试(如5G、毫米波)。
屏蔽技术:部分型号集成接地屏蔽层,抑制电磁干扰(EMI)和串扰。
2.KPS040-004CA 高频弹簧探针核心特性
频率范围
支持高频信号测试,典型覆盖 DC至40GHz,适用于5G、毫米波、射频(RF)器件等高频应用。
低损耗设计
镀金铜合金材质:降低接触电阻(通常<50mΩ),减少信号衰减。
短行程结构:优化信号路径长度,抑制寄生电感和电容,提升高频响应。
机械性能
行程:约0.4mm(具体数值需确认,型号中“040"可能暗示行程)。
耐久性:10万次以上插拔寿命,镀层耐磨性优异。
接触力:适中(如50-100gf),确保稳定接触且不损伤被测器件。
微型化适配
直径:约0.4mm(“004"可能代表直径),适合高密度封装测试(如CSP、QFN)。
间距适配:支持0.5mm以下间距的微型半导体测试。
3. 优势与挑战
优势:
高精度接触,减少测试误差。
模块化设计,便于集成到测试插座(Test Socket)或探针卡(Probe Card)中。
高频下对材料和加工精度,成本较高。
需配合阻抗匹配电路以优化性能。
高频稳定性强,阻抗匹配优化。
4. 关键技术参数
频率范围:DC至40GHz
接触电阻:<50mΩ,确保低功耗和信号稳定性。
耐久性:通常支持10万次以上插拔,镀金层增强耐磨性。
微小间距:可适配0.2mm以下的微型化半导体封装测试。
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