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简要描述:日本KITA 半导体PCB 检查的弹簧探针标准型K-026-2CAK2系列是KITA公司针对PCB(印刷电路板)测试(如ICT、FCT)设计的标准弹簧探针(Test Probe).以高耐久性、稳定接触电阻和紧凑结构为特点,广泛应用于电子制造领域的测试环节。
深圳纳加霍里科技专业代理销售日本KITA 半导体PCB 检查的弹簧探针标准型)K-026-2CA 产品特点如下:
日本KITA 半导体PCB 检查的弹簧探针标准型K-026-2CA 拥有多种用于电路板检测的弹簧探针,从裸板测试到 ICT。除了弹簧探针的形状和总长度的变化之外
PCB(印刷电路板)测试(如ICT、FCT)设计的标准弹簧探针(Test Probe),以高耐久性、稳定接触电阻和紧凑结构为特点,广泛应用于电子制造领域的测试环节。
核心特性
结构设计
三件式结构:针管(Barrel)、弹簧(Spring)、针头(Plunger)组成,内部弹簧提供稳定接触压力。
镀金层:关键部位镀金(如针头),确保低接触电阻(通常<50mΩ)和抗氧化性。
紧凑尺寸:直径范围常见为0.5mm~2.0mm,适合高密度PCB布局测试。
电气性能
额定电流:1A~3A(视具体型号),电压通常低于50V。
接触电阻稳定性:反复插拔后电阻变化率低,保障测试准确性。
机械耐久性
寿命:典型值10万~50万次插拔(依据负载和环境条件)。
行程范围:1.0mm~5.0mm(如K2-15系列行程3.0mm),提供弹性缓冲避免PCB损伤。
兼容性
适配多种测试治具(Fixture),如日本品牌(如JEMIC)或国际标准接口。
K-026-2CA 型号关键特性
基本结构
属于K2系列标准三件式弹簧探针(针管+弹簧+针头),专为PCB测试(如ICT/FCT)设计。
镀金接触部分:确保低接触电阻(典型值<30mΩ)和抗氧化,适合精密测试。
尺寸参数
外径:可能为 1.5mm~2.0mm(参考K2系列常见尺寸)。
行程:预计 2.0mm~3.0mm(提供适度弹性缓冲,避免PCB损伤)。
总长:约 20mm~26mm(型号中的“026"可能暗示总长26mm)。
电气性能
额定电流:约 1A~2A(标准K2系列范围)。
电压范围:DC/AC 50V以下。
机械性能
寿命:预计 50,000~100,000次 插拔(依赖负载和操作环境)。
弹簧力:中等压力(如100gf~300gf),平衡接触可靠性与PCB保护。
应用场景
ICT测试:检测PCB开路、短路、元件焊接缺陷。
FCT测试:功能验证,需稳定接触供电和信号传输。
高频测试:部分型号支持高频信号(需选低电感设计变种)。
典型型号与参数示例
型号示例 | 直径(mm) | 行程(mm) | 额定电流 | 寿命(次) |
---|---|---|---|---|
K2-10 | 1.0 | 2.5 | 1A | 100,000 |
K2-20 | 1.5 | 3.0 | 2A | 200,000 |
K2-30 | 2.0 | 5.0 | 3A | 50,000 |
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