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KITA喜多制作所探针：半导体测试中的核心部件与分类指南
KITA喜多制作所探针：半导体测试中的核心部件与分类指南
更新时间：2025-12-26
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内置于集成电路测试设备PCB的IC插座中，作为被测集成电路/电子元件电极与PCB之间的电通路核心部件，实现信号与电流的稳定传输。
- 2位置可移动柱塞：示例系列（KHW-、KMW-、KW1-），支持双向移动。
- 1位置单侧可移动柱塞：示例系列（KHS-、KLS-、KB2-），仅单侧活动。注：两类均提供对应插座组装图。
- 单侧活动式（带法兰）：针对单侧可移动柱塞的组装设计。
- BGA、CSP：适配球栅阵列/芯片级封装的焊点接触。
- 材料：BeCu（铍铜，主力材料）、钯合金（防焊料转移，无需电镀）。
- 电镀：金合金（硬度高于纯金，抑制焊料转移）、Au（镀金，优先保障导电性）。
- 材料：铜管（黄铜、磷青铜等）、合金枪管（北制作所原装，兼容外径0.11-0.42mm）。
- 高温不锈钢：北制作所设计，耐高温-45~200℃。
最长12个月，需满足环境条件：温度20-30℃、湿度≤30%、无尘、无腐蚀性污染。
- 电应用时，需在电机静止状态下，按推荐行程施加电流和电压，避免动态负载下的接触不良或损坏
总结：KITA探针通过结构优化、材料适配（如BeCu柱塞、高温弹簧）及分类设计（按IC封装类型定制尖），满足半导体器件测试中的高精度、高可靠性电连接需求，同时明确储存与使用规范以保障寿命与性能。
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