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纳加霍里供应日本Toumeigiken东明技研 激光干涉仪

更新时间:2026-10-20      浏览次数:4

在光学元件、半导体晶圆、精密反射镜制造领域,面形精度直接决定产品性能。

深圳纳加霍里科技引进东明技研的超紧凑型(Akion)干涉仪。 为高精度光学检测提供成熟解决方案。

📦全系列产品矩阵

🔹AK-40ZF|1.5 英寸(Φ38mm):超紧凑型本体,小口径元件检测 image.png

🔹AK-100ZF|4 英寸(Φ100mm):主流机型,可配置球面系统、牛顿检查系统 


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🔹AK-150ZF|6 英寸(Φ150mm):大口径版本,平面系统,适配大尺寸光学件

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产品核心优势

  1. 超高测量精度:标准参考镜头可达 λ/20 精度,可评估玻璃平面、晶圆抛光面、各类球面镜片

  2. 6 倍变焦机构:全系标配 6 倍变焦,观测细节清晰,提升判读效率

  3. 模块化搭建:主机本体可搭配球面、平面、牛顿检查系统,立式 / 卧式多种安装形式;测量行程支持定制,满足不同工件

  4. 紧凑型机身设计:相比传统干涉仪体积更小,降低实验室占地门槛,设备刚性强,测量稳定性优异

适用场景

光学镜片加工、光学抛光工艺质检、半导体晶圆面形检测、反射镜、光学基板、镜头球面轮廓测量,高校光学实验室、精密制造产线均可使用。



整套设备日本原厂出品,深圳纳加霍里科技可提供配套选型、技术支持。如果你正在寻找光学面形检测方案,欢迎咨询交流。




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